Si tienes problemas para ver las utilidades Java, puede que necesites actualizar el software de Java que tienes instalado en tu ordenador:

1. Descarga Java2 JRE 5.0 [15MB], escogiendo la versión que necesite el sistema perativo de tu ordenador.
2. Realiza la instalación, siguiendo los pasos por defecto.
3. Inténtalo de nuevo.

• Represtación interactiva tridimensional de empaquetamientos generados por un solo tipo de átomos. Puede variarse el radio atómico, obteniéndose los parámetros geométricos de la celda elemental resultante.
• Empaquetamientos disponibles:

E. C. S.   E. C. I.   E. C. C.   E. H. C.

• Represtación interactiva de los poliedros de coordinación para distintas relaciones de los radios del catión y de los aniones (Rcat/Ran).
• Basada en la la 1ª Regla de Pauling.
• Poliedros de coordinación disponibles:

Cúbica   Octaédrica   Tetraédrica   Triangular

• Represtación interactiva de los intersticios tetraédricos y octaédricos en los empaquetamientos compactos de esferas iguales.
• Empaquetamientos disponibles:

Cúbico Compacto   Hexagonal Compacto

• Represtación interactiva del comportamiento de la Ley de Bragg.
• Pueden variarse los parámetros más relevantes que intervienen en la simulación.

  Abrir LeyBraggApplet

Calculadora de espaciados reticulares

• Basada en la Ley de Bragg.

• Permite calcular los espaciados reticulares y valores angulares (2*Theta) para diferentes longitudes de onda de un experimento de difracción.

  Abrir ConverBraggApplet

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Identificación de Materiales Cristalinos

Esta práctica está pensada para guiar al alumno en las diferentes etapas de identificación de un material cristalino a partir de su diagrama de difracción de rayos X en muestra policristalina.

Relación entre la Estructura Cristalina y el Diagrama de Difracción de Rayos X

Esta práctica está pensada para ilustrar la relación entre la estructura cristalina y el diagrama de difracción en muestra policristalina de un material. Se simulan diferentes diagramas de difrcción a partir de la información estructural de minerales, tomadas de una base de datos cristalográfica.

Caracterización de Materiales Cristalinos

Esta práctica está pensada para adquirir una visión de las técnicas a utilizar durante la caracterización de un mineral: Análisis químico, espectroscopía infrarroja, análisis termogravimétrico, etc.

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1.- Introducción

• La Cristalografía, definición. Materia cristalina y materia amorfa. Partes de la Cristalografía

2.- Cristalografía Geométrica

• Teoría Reticular. Celda elemental. Planos reticulares. Ecuación de zona.
• Proyecciones esféricas. La proyección estereográfica y sus propiedades.
• Simetría de los objetos finitos. Operaciones de simetría puntual.
• Deducción y notación de los grupos puntuales de simetría. Los sistemas cristalinos.
• Redes tridimensionales. Redes de Bravais.
• Simetría de los objetos infinitos. Operaciones de simetría espacial.
• Grupos espaciales de simetría.

3.- Cristalografía de rayos X y difracción en general

• Los rayos X: Naturaleza y características
• Interacción radiación-materia.
• La Difracción de los Rayos X. Leyes geométricas.
• Métodos experimentales en difracción de rayos X: muestras monoclistalinas y policristalinas.

4.- Cristaloquímica

• Conceptos básicos de cristaloqímica. Radio atómico. Número y poliedro de coordinación.
• El empaquetamiento de esferas. Tipos de empaquetamientos. Cristales metálicos.
• Intersticios en un empaquetamiento de esferas.
• Estructuras derivadas de la ocupación de intersticios tetraédricos.
• Estructuras derivadas de la ocupación de intersticios octaédricos.
• Estructuras mixtas derivadas de la ocupación de intersticios tetraédricos y octaédricos.
• Cristales moleculares
• Estructura de los silicatos. Clasificación.
• El cristal ideal y el cristal real. Defectos cristalinos.
• Agregados cristalinos. Maclas.
• Formación y crecimiento cristalino.

5.- Polimorfismo e isomorfismo

• Polimorfismo. Aspectos termodinámicos y estructurales. Clasificación.
• Las transiciones de fases. Clasificación.
• Isomorfismo. Isotipismo. Soluciones sólidas.
• Aplicación del isomorfismo a la mineralogía.

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1.- Introducción: materia cristalina y difracción

• El orden interno en los cristales
• ¿Qué es una estructura cristalina?
• La difracción de rayos X
• La difracción de rayos X en muestra policristalina
• El difractómetro para muestras policristalinas

2.- ¿Qué se mide en un experimento de difracción en muestra policristalina?

• Posición de los máximos
• Función de forma del perfil de difracción (ffp)
• Intensidades de los máximos de difracción
• Intensidad del fondo continuo
• El diagrama en su conjunto
• Información que se puede obtener de un diagrama de difracción
  • Espaciado reticular, d(Å)
  • Forma y anchura de los máximos
  • Intensidad de los máximos
  • Fondo continuo

3.- ¿Cómo tratar los datos de difracción?

• Búsqueda de máximos
• Ajuste del perfil (simulación de máximos individuales)
• Ajuste del perfil completo (restricciones de celda unidad)
• Ajuste del diagrama mediante afinamiento estructural (el método de Rietveld)
  • ¿Qué es el método de Rietveld?
  • Las figuras de mérito en el método de Rietveld
  • Precisión y exactitud del afinamiento Rietveld
  • Los programas basados en el método de Rietveld
  • La práctica del método de Rietveld

4.- Aplicaciones de las técnicas de afinamiento de perfil

• Análisis cualitativo de fases
• Análisis cuantitativo de fases
• Determinación estructural
  • Indexación del diagrama: determinación de los parámetros de celda y del grupo espacial
  • La extracción de los factores de estructura |Fh|
  • Resolución de la estructura
• Afinamiento estructural
  • Rayos X
  • Neutrones
  • Combinación de difracción de rayos X y neutrones
• Medidas en tiempo real

5.- Problemas comunes en difracción de policristales

• Factores que afectan a la intensidad relativa de las reflexiones
  • Multiplicidad de un plano de Bragg
  • Los factores de Lorentz y de polarización
  • Extinción
  • Absorción
  • Microabsorción
  • Polarización debida a monocromadores
• Distorsiones anisotrópicas del diagrama de difracción
  • Orientación preferente
  • Tamaño de los cristalitos
  • Tensiones y deformaciones residuales
  • Estadística de partículas
• Aberraciones instrumentales sistemáticas
  • Divergencia axial y asimetría de los máximos de difracción
  • Muestras planas
  • Transparencia y desplazamiento de la muestra
  • Contaminación espectral de la radiación utilizada

6.- Aplicaciones

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